Controle vonkproducten | Nefratech EDM-Center
Een scherpe blik op elke micrometer
De controle van vonkproducten begint al tijdens het verspaanproces. Gedurende het hele vonkproces meten wij nauwkeurig en controleren wij elk werkstuk op de afgesproken toleranties.
Met geavanceerde meetapparatuur, waaronder de ZEISS O-INSPECT 543, meten wij tot op 0,001 millimeter. De ZEISS combineert optische en tactiele metingen, zodat maat, vorm en positie nauwkeurig worden gecontroleerd. Afwijkingen signaleren wij daardoor snel en sturen wij direct bij.
Wij zijn geen heilige boontjes: afwijkingen kunnen zich soms voordoen. Mocht een product buiten de gestelde toleranties vallen, dan nemen wij contact met u op en lossen wij het in élk geval op.
Heeft u specifieke reinheidseisen, zoals GRADE-2 Cleanliness? Neem dan contact op met Nefratech EDM-Center voor gespecialiseerd advies.
Controleren van vonkproducties
Naast een zeer geavanceerd en uniek machinepark beschikt Nefratech EDM-Center over een moderne meetkamer met de ZEISS O-INSPECT 543. Deze multisensor-meetmachine combineert 3D-precisiemetingen met optische metingen, voor nauwkeurige controle van maat, vorm en positie.
Lees meer over draadvonken of zinkvonken. Zie ook verder: meetapparatuur.
Hexagon Optiv Classic 322
De Hexagon Optiv Classic 322 is bestemd voor optische metingen. Door middel van optische metingen kan er snel en zeer nauwkeurig gemeten worden. De meetsoftware is PC-DMIS Vision. Deze Hexagon wordt toegepast bij veelzijdige geometriemetingen en GD&T-analyse.
Mitutoyo Crysta Plus M574
Met de Mitutoyo Crysta Plus M574 controleren wij het eindproduct tot op enkele duizendste millimeters aan alle zijden nauwkeurig. U bent dus altijd zeker van een ‘zuiver’ gemeten vonkproduct.
